ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЕ ВОПРОСЫ ПО КУРСУ
"ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТИ И
ГРАНИЦ РАЗДЕЛА"
1.
Полупроводниковые сверхрешетки. Композиционные и
легированные сверхрешетки.
2.
Энергетическая структура полупроводниковых
сверхрешеток.
3.
Исследование и применение полупроводниковых сверхрешеток.
4.
Магнитные мультислои: структура, свойства и
применение.
5.
Гигантское магнитосопротивление в магнитных
мультислоях.
6.
Молекулярно-лучевая эпитаксия.
7.
Механизмы эпитаксиального роста тонких пленок.
8.
Рост из газовой фазы с использованием
металлоорганических соединений.
9.
Получение многослойных магнитных структур методом
электролитического осаждения.
10.
Кристаллография поверхности. Симметрия поверхности и
двумерные решетки Браве.
11.
Релаксация, реконструкция и дефекты поверхности.
Обозначения структур верхних атомных слоев.
12.
Обратная решетка.
13.
Условия дифракции. Построение Эвальда.
14.
Дифракция медленных электронов. Экспериментальная
техника ДМЭ.
15.
Дифракция отраженных быстрых электронов.
16.
Применение ДОБЭ к исследованию микроморфологии
поверхности.
17.
Вторичная электронная эмиссия - основа современных
методов анализа поверхности.
18.
Зависимость коэффициентов вторичной электронной
эмиссии и упругого отражения от энергии первичных электронов.
19.
Физические основы электронной оже-спектроскопии.
20.
Спектроскопия характеристических потерь энергии
электронов.
21.
Фотоэлектронная спектроскопия. Энергетический спектр
фотоэлектронов.
22.
Поверхностная чувствительность и очистка
поверхности.
23.
Анализ энергии в электронной спектроскопии.
24.
Электрическое дифференцирование кривой задержки
вторичных электронов.
25.
Источники электронов, рентгеновского излучения и
ионов.
26.
Электронные спектрометры.
27.
Количественный элементный анализ в электронной
спектроскопии.
28.
Применение
электронной спектроскопии для изучение механизмов роста тонких пленок.
29.
Влияние химического состояния элементов на
электронные спектры.
30.
Послойный анализ методами электронной спектроскопии.