ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЕ ВОПРОСЫ ПО КУРСУ

"ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТИ И ГРАНИЦ РАЗДЕЛА"

           

 

1.         Полупроводниковые сверхрешетки. Композиционные и легированные сверхрешетки.

2.         Энергетическая структура полупроводниковых сверхрешеток.

3.         Исследование и применение полупроводниковых сверхрешеток.

4.         Магнитные мультислои: структура, свойства и применение.

5.         Гигантское магнитосопротивление в магнитных мультислоях.

6.         Молекулярно-лучевая эпитаксия.

7.         Механизмы эпитаксиального роста тонких пленок.

8.         Рост из газовой фазы с использованием металлоорганических соединений.

9.         Получение многослойных магнитных структур методом электролитического осаждения.

10.         Кристаллография поверхности. Симметрия поверхности и двумерные решетки Браве.

11.         Релаксация, реконструкция и дефекты поверхности. Обозначения структур верхних атомных слоев.

12.         Обратная решетка.

13.         Условия дифракции. Построение Эвальда.

14.         Дифракция медленных электронов. Экспериментальная техника ДМЭ.

15.         Дифракция отраженных быстрых электронов.

16.         Применение ДОБЭ к исследованию микроморфологии поверхности.

17.         Вторичная электронная эмиссия - основа современных методов анализа поверхности.

18.         Зависимость коэффициентов вторичной электронной эмиссии и упругого отражения от энергии первичных электронов.

19.         Физические основы электронной оже-спектроскопии.

20.         Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов.

21.         Фотоэлектронная спектроскопия. Энергетический спектр фотоэлектронов.

22.         Поверхностная чувствительность и очистка поверхности.

23.         Анализ энергии в электронной спектроскопии.

24.         Электрическое дифференцирование кривой задержки вторичных электронов.

25.         Источники электронов, рентгеновского излучения и ионов.

26.         Электронные спектрометры.

27.         Количественный элементный анализ в электронной спектроскопии.

28.         Применение электронной спектроскопии для изучение механизмов роста тонких пленок.

29.         Влияние химического состояния элементов на электронные спектры.

30.         Послойный анализ методами электронной спектроскопии.

 

 

 

 


Санаторий реабилитация алкоголиков | стеклянные перегородки для офиса, light