УСЛОВНЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ
n - (индекс) порядковый номер;
с - скорость света, со - скорость света в вакууме;
е - обозначение электрона;
ео, mо* - заряд и эффективная масса электрона;
nо - концентрация свободных электронов в материале;
Еn - энергетические уровни (энергетические состояния);
en,n+1 - разность энергий между энергетическими состояниями;
nn(En) - заселенность уровней;
tn - время жизни электрона на энергетическом уровне;
hn - энергия фотона;
nn - обозначения колебательных мод;
nn - квантовые числа колебательных мод;
Еg - ширина запрещенной зоны;
Vc - критическая средняя скорость накачки.
nc - частота столкновений, при котором происходит изменение импульса;
nэ.ф - частота электрон-фотонных столкновений;
nэ.э - частота электрон-электронных столкновений;
nэ.и - частота электрон-ионных столкновений;
nи.и - частота ион-ионных столкновений;
tр, tэ - время разогрева кристаллической решетки и электронов проводимости.
l - длина волны;
lг - длина генерируемой волны;
lи - длина волны излучения или импульса излучения;
ln - набор длин волн белого светового излучения.
f - частота волны;
fг - частота генерируемой волны;
Dfг - частотный диапазон спектра линии генерации (ширина линии генерации);
t - длительность;
tи - длительность импульса излучения;
g - степень когерентности излучения;
tк - время когерентности излучения;
Lк , Sк - длина и область когерентности излучения;
i - индекс моды.
qо , qн - насыщенный и ненасыщенный коэффициент усиления;
Emax, Emin - максимальная и минимальная интенсивности освещенности интерференционных полос;
Q - потери в резонаторе;
l, D - длина и диаметр резонатора (активной среды);
Dl - флуктуация линейного размера резонатора (активной среды);
tи.л - длительность светового импульса лампы накачки.
I - интенсивность волны;
Iо - интенсивность излучения;
Iг - интенсивность генерируемой волны;
Iн - насыщенная интенсивность излучения;
Iо, Iо1,2,3 - плотность и критические плотности излучения;
I(z) - распределение интенсивности излучения по глубине материала;
I(o) - интенсивность излучения на поверхности материала;
kI - коэффициент распределения интенсивности по сечению пучка излучения;
W - мощность волны;
Wи - мощность импульса излучения;
Wл - выходная мощность непрерывного излучения лазера;
Wс - средняя выходная мощность импульсного лазерного излучения;
Е - энергия волны;
Еи - энергия излучения;
Q - расходимость волны;
Qd - расходимость пучка излучения диаметром do;
Qc - расходимость излучения, обусловленная дифракцией;
Qг - расходимость излучения при его телескопическом расширении.
a, R - коэффициенты поглощения и отражения света;
А - поглощающая способность материала;
n - коэффициент преломления света;
Y - преломляющий угол призмы, бипризмы;
Ф - фокусное расстояние;
Фг - фокусное расстояние для генерируемой волны;
Фn - фокусные расстояния для отдельной монохроматической волны;
Г - увеличение телескопической системы;
do - диаметр пучка излучения, диаметр выфрезерованного отверстия лазерным излучением;
dг, rг - диаметр и радиус пятна сфокусированного лазерного (генерированного) излучения;
dог - диаметр телескопически расширенного пучка;
dсп - диаметр светового пучка на поверхности обрабатываемого материала;
ds - диаметр сфокусированного белого света;
d - скин-слой;
сn - теплоемкость;
x - коэффициент температуропроводности;
c - коэффициент теплопроводности;
cэ, cф, cл - коэффициенты электронной, фононной и лучевой теплопроводности;
Т - температура;
То - температура окружающей среды;
Тп, Ти и Тк - температуры плавления, испарения и кипения;
Тип - температура испаряющейся поверхности;
Тс - установившаяся температура;
Тпдл, Тэ - температуры подложки и эпитаксии;
Lи - удельная теплота испарения.
z - глубина воздействия излучения; zпр - глубина прогретого слоя;
zп и zи - глубина плавления и испарения (глубина проделанного отверстия за счет испарения);
t - время излучения;
tn - время облучения (t1, t2 и т.д.)
tп, tк и tи - время воздействия, достаточное для установления температуры плавления кипения и испарения;
uо - скорость перемещения лазерного пучка;
ut - скорость распространения тепла.
Еа - энергия активации процесса;
Ei - энергия частиц (ионов);
Ip - ток тлеющего разряда;
U - приложенное электрическое напряжение;
p - давление газа или остаточных газов в вакууме;
P - вес материала;
DP - испарившаяся часть материала;
r, g - плотность, удельный вес материала;
lс.п - длина свободного пробега частиц (атомов);
h - толщина осажденного слоя (пленки);
uи, uп - скорости испарения материала и осаждения пленки;
uпо - мгновенная скорость осаждения пленки при импульсном испарении.